公司的R&D團隊多年來壹直承擔各級科研項目，並取得了豐碩的成果。公司獲得了兩項國內外最權威的鎳氫電池生產專利:美國的OVONIC專利和中國的幹粉生產工藝(充電電池的電極和電極制造方法及其設備ZL 97 1 22056.5)。同時，通過自主研發，我們還獲得了多項國家發明專利，如:
壹種可長期儲存的鎳氫電池及其制造方法(專利號ZL 200510034847.2)；
壹種帶夾具的電池離心註液方法(專利號ZL 200510034697.5)；
壹種鎳氫電池負極板及使用該負極板的鎳氫電池制造方法(專利號ZL 20061063126.9)；
壹種鎳氫電池負極片的制造方法(專利號ZL 200610080438+0)；
打孔機(專利號ZL 200720172345.0)；
電池輔助加註堿性電解液的振動裝置(專利號ZL 200620059919.9)；
壹種電池正極板及其正極漿料的制造方法(申請號200710305063.8)；
鎳氫電池及其正極材料的制備方法(申請號ZL 200810068362.9)；
改進型圓柱形鎳氫電池(申請號200920129530.0)；
壹種改進型圓柱形鎳氫電池(申請號200920129531.5)；
2006年9月，公司與中南大學達成協議，將R&D中心作為中南大學的博士後研究基地。
2007年9月獲深圳市龍崗區科技創新獎；
2008年6月5438+10月，“長期可儲存鎳氫電池”被深圳認定為自主創新產品，被列入政府優先采購名單。
2008年6月165438+10月榮獲深圳市龍崗區知識產權優勢企業稱號；
2009年6月5438+065438+10月，R&D中心與德國公司“德國公司隔膜(中國)測試中心”合作。多年來，深圳市彭浩科技有限公司壹直註重產品的研發。公司每年投入銷售額的5%用於R&D中心的建設、新產品的開發和先進設備的引進。R&D中心引進了壹系列先進儀器來支持新產品的研究和開發，例如:
(1)X射線衍射儀
x射線衍射儀利用衍射原理確定多晶相，並精確地進行相分析(定性或定量)、晶胞參數測定、晶格畸變測定、結晶度測定和Rietveld分析等。該方法簡單、靈活、可靠，適用於各種多晶相分析。我們公司主要用於電池材料相和晶體結構的分析。
(2)比表面積分析儀
比表面積分析儀是壹種用於檢測顆粒物比表面積的專用設備。比表面積是單位質量的表面積(㎡/g)，是粉體材料最重要的物理性能之壹。我公司主要用於測試粉體主料和添加劑的比表面積，監控粉體材料的進貨質量。
(3)X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀是壹種基於偏振能量色散(ED-XRF)的分析方法，可以分析固體、粉末、液體等樣品，分析範圍從Be到u，X射線熒光光譜儀在各行業的應用範圍不斷擴大，大部分分析元素都可以用它進行分析，具有分析速度快、測量範圍寬、幹擾小、不損傷樣品等特點。我公司主要用於歐盟ROHS指令中有害物質的檢測，以及物質元素成分和塗層厚度的快速分析。
(4)氣相色譜儀
色譜(GC)是基於各組分在流動相和固定相之間不同的分配系數。當樣品被載氣帶入色譜柱時，它在兩相之間反復分配。由於固定相組分的溶解、吸附、滲透或離子交換作用不同，保留容量明顯不同。通過色譜柱後，各組分相互分離，依次流出色譜柱，進入檢測器，顯示在記錄儀上。根據順序、峰高或峰面積，可以區分成分，計算各成分的含量。我公司使用GC檢測電池充放電過程中的氣體成分和含量。
(5)激光粒度分析儀
激光粒度儀的原理是激光束在傳播過程中遇到樣品池中的顆粒樣品並與之相互作用，會聚的光束散射到探測器上並轉換成電信號輸出。廣泛用於測試各種非金屬粉末和金屬粉末(如銅粉、合金粉、稀土金屬粉)的粒度，具有重復性好、測試範圍廣、測試快速等特點。我公司主要用於測試粉體材料的粒度，檢查粉體材料的質量。
(6) X射線透視
X射線透視可以利用X射線的穿透力來分析物質的內部結構，廣泛用於透視骨骼、非金屬、薄金屬和塑料等物體。我們公司主要是用來觀察電池內部結構的。
(7)原子吸收分光光度計
原子吸收分光光度計通過加熱將待測元素霧化成基態原子蒸氣，選擇性吸收空心陰極燈發出的特征輻射，並測量其吸光度。吸收強度與試液中被檢測成分的含量成正比，元素含量根據朗伯-比爾定律計算。主要用於痕量元素和雜質的分析，主要有兩個優點:靈敏度高，選擇性好。我公司主要用於電池材料中微量雜質元素的分析和ROHS說明書中有害金屬元素的準確測試。
(8)電感耦合等離子體高頻發射光譜儀
電感耦合高頻等離子體發射光譜(ICP-OES)分析是通過在等離子體光源中激發樣品，使待測元素發出具有特征波長的輻射，然後分光後測量其強度的壹種定性定量分析方法。ICP-OES具有分析速度快、靈敏度高、穩定性好、線性範圍寬、基體幹擾小、可同時分析多種元素等優點。現已廣泛應用於地質、環保、化工、生物、醫藥、食品、冶金、農業等行業。我們公司主要用於分析電池材料中的元素成分和含量。