優點:簡單直觀。動態範圍較小，通常用於測定大於40 mm的顆粒。
缺點:速度慢，壹次只能測壹個篩余值，不足以反映粒度分布；很難做出微小的篩孔；誤差較大，通常達到10% ~ 20%；小顆粒因團聚而難以通過篩孔；有人犯錯，導致可信度下降。
2)沈降原理:斯托克斯定律。
優點:可測試。
缺點:動態範圍窄；小顆粒沈降速度很慢，對於非球形顆粒誤差較大；因為密度壹致性差，不適合混合材料；重力沈降儀適用於粒度大於65438±00微米的粉體。如果顆粒很細，就需要離心沈澱。
3)庫爾特電阻法原理:計數顆粒通過小孔時產生的電阻脈沖。
優點:可以確定粒子總數，等效概念清晰；操作簡單。
缺點:動態範圍小，約1:20；對介質的電性能有嚴格的要求；很容易堵住小孔。
4)顯微鏡法原理:光學成像。
優點:簡單直觀；它可用於局部形態分析。
缺點:動態範圍窄，1:20；測量時間長，20分鐘左右；樣品制備操作復雜；抽樣的代表性差；很難分散超細顆粒，並且由於衍射極限，不可能檢測超細顆粒。
5)電子顯微鏡原理:電子成像。
優點:直觀；高分辨率。
缺點:采樣少，不具代表性，樣本雜；儀器很貴。
6)激光粒度分析儀原理:激光衍射/散射。
優點:測量速度快，約1分鐘；動態範圍大，約1:1000；復制模型；高精度和高分辨率；操作簡單；客隊的動態粒子群是最先進的粒度分析儀，也是粒度分析儀的發展方向。
以上是微納總結。