在準備元件之前，最好對照電路原理圖列出所需的元件。
為了保證在試生產過程中不浪費時間，減少誤差，保證成品器件能長期穩定工作，所有元器件準備好後，必須進行篩選和測試。在正規的工業生產中，有專門的元器件篩選測試車間，配備了很多通用和專用的篩選測試設備和儀器，但對於業余愛好者來說，是不可能滿足這些條件的。即便如此，也絕對不能放棄元器件的篩選和測試，因為電子發燒友使用的電子元器件很多都是郵購而來，有正品也有殘次品，更多的是業余愛好者或者用戶。如果它們在安裝前沒有經過篩選和測試，壹旦焊接在印刷電路板上，不僅浪費大量的時間和精力，而且如果拆下來還會損壞元器件和印刷電路板。
(1)外觀質量檢查拿到壹個電子元件後，妳要檢查壹下它的外觀有沒有明顯的損傷。如變壓器，看引線是否全部斷裂，外觀是否生銹，線包和骨架是否損壞。
如三極管，看其外觀有無破損，引腳有無折斷或腐蝕，還要檢查器件上的型號是否清晰可辨。對於電位器、可變電容等可調元件，還需檢查其在調節範圍內的活動是否平穩靈活，松緊是否合適，不應有機械噪音，手感是否良好，並確保各觸點接觸良好。
各種電子元器件都有自己的特點和要求，妳要多了解各個元器件的性能、參數和特點，積累經驗。⑵電氣性能篩選是保證試制的電子設備能長期穩定帶電工作，並經得起應用環境和其他可能因素的考驗的必不可少的過程。
所謂篩選，就是對電子元器件進行壹次應力或多次應力測試，在不破壞其完整性的情況下，暴露其固有缺陷。篩選的理論是:如果測試和應力水平選擇得當，劣質產品會失敗，而優秀產品會通過。
在長期的生產實踐中發現，新制造的電子元器件在剛投入使用時故障率普遍較高，稱為早期失效。電子元件在早期失效後，進入正常使用階段。壹般來說，這個階段電子元器件的故障率會大大降低。正常使用階段過後，電子元器件將進入磨損老化階段，這將意味著壽命的終結。
這個規律，就像壹條浴缸曲線，叫做電子元器件效率曲線，如圖1。電子元器件的失效是由於設計和生產中使用的原材料或工藝措施不當造成的。
元件的早期失效是非常有害的，但是不可避免的。因此，人們只能人為地創造早期的工作條件，從而在制造產品之前淘汰劣質產品，使產品制造中使用的元器件從壹開始就進入正常使用階段，減少故障，增加其可靠性。
在正規的電子廠，老化篩選項目壹般包括:高溫儲存老化；高低溫循環老化；高低溫沖擊老化和高溫動力老化。其中高溫電源老化是給被測電子元器件通電模擬實際工作條件，加上+80℃-+180℃的高溫數小時。它是測試元器件各種潛在故障的有效手段，也是目前應用最廣泛的方法。
對於業余愛好者來說，在單個電子制作的過程中，是不可能采用這些方法進行老化檢測的。多數情況下采用自然陳化。比如元器件在使用前存放壹段時間，讓電子元器件自然經受夏季高溫、冬季低溫的考驗，然後檢測其電性能是否符合使用要求，優勝劣汰。
對於壹些緊急的電子元件，也可以采用簡單的電老化方法。可以用壹個輸出電壓可調的脈動DC電源，使電子元器件兩端的電壓略高於元器件的額定工作電壓，調節流經元器件的電流強度，使功率達到額定功率的1.5-2倍，通電幾分鐘甚至更長時間，完成簡單的老化過程。(3)元器件的檢測電子元器件經過外觀檢查和老化處理後，還必須對其電氣性能和技術參數進行測量，以確定其優缺點，並淘汰那些已經失效的元器件。
當然，不同的電子元器件應該有不同的測量儀器，但對於業余愛好者來說，壹般不要求有專門的電子測量儀器，但至少要有壹個萬能儀，可以用來大致檢測壹些常用的電子元器件。各種電子元器件涉及的電氣性能參數很多，我們需要按照業余生產中必須明確的相關參數進行測試，而不是測試元器件的所有參數。
下面是壹些檢測基本成分的例子。①電阻器。
它是所有電子設備中使用最廣泛的元件，也是最便宜的電子元件之壹。它是線性元件，在電路中的主要用途有:限流、降壓、分壓、分流、匹配、負載、阻尼、采樣等。
測試這種元件時，主要看其標稱電阻與實測電阻的偏差。在大批量生產中，由於加工過程中各道工序的作用，電阻器的實際值不可能與其標稱值完全壹致，因此其電阻值是離散的。為了便於管理和組織生產，在工程中根據使用需要給出了允許偏差值，如5%、10%、20%。
另外，萬用表檢測電阻時，壹般要求誤差不超過允許偏差的10%。同時也可以通過外觀檢查綜合判斷。
②電容器。電容器也是電子設備中使用最多的電子元件之壹。
它的好壞直接影響整機的性能，也是容易出現故障的部件。檢查電容器時，如果電解電容器的儲存。
2.半導體二極管和三極管的篩選和老化方法有哪些？
檢查的主要內容如下:
(2)電位器、可變電容、可調電感等元件應轉動平穩，無跳動或卡澀現象。④膠木表面無裂紋、起泡、分層。瓷件表面光滑無缺陷。⑤對於密封結構的部件，密封部位不應有損傷或裂紋。⑥鍍銀件表面光亮，無變色發黑現象。2.元器件的篩選和老化③接插件應插拔自如，插腳和插座鍍層應光亮，無明顯氧化和汙染。(1)元件外觀應完好無損，標誌清晰，引線和端子無腐蝕和明顯氧化。篩選老化的目的是淘汰因某些缺陷而早期失效的元器件，以提高元器件的使用壽命和可靠性。因此，所有有篩選老化要求的部件，在裝配前都必須嚴格按照整機的技術要求和相關技術規定進行篩選老化。但是在課堂這種業余條件下，沒有條件對元器件進行正常的篩選和老化，只能借助萬用表和相關的通用儀器，對元器件進行壹般的測試，阻容元件，二極管，三極管，集成電路，
電感線圈、電位器等元件的壹般檢測在前面的課程中已經介紹過，這裏不再贅述。而電視廠商有元器件篩選老化的條件，由專業人員操作，比較復雜。下面簡單介紹壹下半導體二極管、三極管、集成電路的篩選和老化的技術要求，僅供學生參考。(1)半導體二極管和三極管的篩選和老化①篩選程序:
b晶體管:高溫儲存→溫度沖擊→跌落(不使用大功率晶體管)→高溫反向偏置(矽PNP晶體管)→電源老化→高低溫測試(如有必要)→常溫測試→檢漏→外觀檢查。
心臟→力量老化。篩選程序可根據具體情況改變，但其主要項目為:高溫貯存→溫度沖擊→跌落或分離②條件和要求:
儲存時間:A級為48小時，B級為96小時..儲存溫度:矽二極管(150±3)℃;矽三極管(175±3)℃;鍺二極管和三極管(100±2)℃。a高溫存儲漏電流→室溫測試→檢漏→外觀檢查。a二極管(此處為整流二極管):高溫儲存→溫度沖擊→敲擊→電源老化→高溫測試反轉。
鍺元素:(-55±3)℃平滑溫度沖擊
矽元素:(-55±3)℃( 125±3)℃。先低溫後高溫，轉換時間小於1min，每種狀態放置1h，循環次數5次。
允許曲線跳躍。拍打次數為3~5次。c輕敲專用夾具，用小錘輕敲器件，用指示器監測最大工作電流的正曲線。不
在c-b極之間加反向電壓(具體電壓值由技術部門規定)。反向偏置時間約為4h，漏電流不超過規定值。f .鍺二極管高溫試驗溫度為(70±2)℃,鍺中小功率晶體管為(55±2)℃,鍺功率G為(-55±3)℃,恒溫時間為30min。
I .應根據技術文件進行泄漏檢測。(2)半導體集成電路的篩選常溫試驗應按技術文件進行。e在(70±2)℃老化時間為12h，A級為B，B級為24h..三極管的溫度為(75±2)℃,矽二極管和三極管的溫度為(125±3)℃。恒溫時間為30分鐘。①高溫貯存:其作用是通過高溫加熱來加速任何可能或已有的表面化學反應，使貯存條件為:溫度為150 ~(175±5)℃,貯存時間為48h或96h。150℃適用於環氧扁平封裝的循環條件:溫度為(-55±3)℃、( 125±3)℃。先低溫後高溫，每個溫度保持30分鐘。②溫度循環這個項目可以測試電路中不同結構材料的熱脹冷縮是否匹配。電路是穩定的，並且潛在的故障電路被消除。175℃適用於其他材料封裝的電路。
我想問壹下電子元器件的使用壽命。
要求供方和單位技術部門提供這些產品的標準或技術文件。在這些文件中，可以找到型式試驗或例行試驗的內容，包括老化或壽命試驗方法、設備或裝置、技術要求、合格判定等。
這項工作可以稱為可靠性測試。要搞清楚做這項工作的目的是為了提高產品的可靠性水平還是僅僅為了應付檢查。
按照正規的做法，工作量非常大，需要壹個團隊，很多專用設備和裝置，時間很長，費用也很多。(比如繼電器有機械壽命和電氣壽命，壹般都是幾十萬次)
如果妳公司的技術總監真的是專家，妳應該知道，妳所列舉的這些部件，大部分用戶是不需要做壽命測試的。壹般他們做出廠檢驗，也可以根據和供應商的合同做精密篩選，高溫精密用的比較多。但應依據產品標準或技術文件的有關規定，或本單位技術部門出具的技術文件。