1.光刻和臺面腐蝕造成邊緣區域的臺面畸形，導致玻璃膠填充不良和空氣間隙，導致器件永久失效。2.由於不良的工藝監控和其他原因導致的臺面的過度腐蝕，加上後續工藝導致的晶片中的過度應力，導致變形。因此，測試探針因與1 h3 N8 P9 W" n1 ]接觸不良而放電。3 r從圖來看，這種情況並不嚴重，第壹個因素會多壹點影響。建議減少邊數(雖然會減少產量，但對後續包裝還是很有好處的，不然邊上會有很多黑點，很容易導致裝框時誤判浪費，包裝廠會打電話的！！壹下子真的很難解釋清楚。最好去硬城看看。
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